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存储器及其测试方法[发明专利]

来源:二三娱乐
专利内容由知识产权出版社提供

专利名称:存储器及其测试方法专利类型:发明专利发明人:钱海涛,路利刚申请号:CN202010846071.9申请日:20200821公开号:CN111816241A公开日:20201023

摘要:本发明实施例公开了一种片上系统的存储器及其测试方法。所述存储器包括:多个物理存储单元;多个第一逻辑映射单元,每个所述第一逻辑映射单元与至少两个所述物理存储单元电连接;第二逻辑映射单元,所述第二逻辑映射单元与所述第一逻辑映射单元电连接;测试逻辑单元,所述测试逻辑单元与所述第二逻辑映射单元电连接,用于通过所述第二逻辑映射单元及所述第一逻辑映射单元对所述物理存储单元进行测试;所述片上系统的功能电路复用为所述第一逻辑映射单元,所述功能电路还用于在对所述物理存储单元测试以外时工作。本发明实施例的存储器中由第一逻辑映射单元、第二逻辑映射单元以及测试逻辑单元组成的测试逻辑具有面积小等优势。

申请人:上海燧原科技有限公司

地址:201209 上海市浦东新区中国(上海)自由贸易试验区盛夏路560号902C-5室

国籍:CN

代理机构:北京品源专利代理有限公司

代理人:孟金喆

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