专利名称：用于微波分析或测量仪器的校准装置和方法专利类型：发明专利
发明人：V.瓦斯勒夫,P-S.基尔达,S.拉希米内贾德申请号：CN201680019928.1申请日：20160404公开号：CN107533122A公开日：20180102
摘要：本发明涉及一种用于校准例如矢量网络分析仪的分析或测量仪器的校准装置(100)。校准装置包括允许分析或测量仪器连接到其的多个校准器连接器元件(20A,20B)。其还包括具有多个校准波导结构(11,11,11,11,11)的板元件(10)。板元件(10)设置有导电表面(12)，并且每一校准器连接器元件(20A,20B)和/或板元件的导电表面包括具有周期性结构(27)的表面，并且其相对于彼此布置使得在其间形成间隙(29)并形成波导界面，从而允许连接到分析或测量仪器的波导(33)的校准器连接器元件(20A,20B)波导(23)与校准波导结构(11,11,11,11,11)的互连。其还包括驱动单元(13)和控制功能(14)，以用于以可控制方式移动板元件(10)和/或校准器连接器元件(20A,20B)，因此允许校准器连接器元件(20A,20B)到不同校准波导结构(11,11,11,11,11)的自动连接。
申请人：深谷波股份公司
地址：瑞典哥德堡
国籍：SE
代理机构：中国专利代理(香港)有限公司
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