专利名称：像素缺陷检测和校正设备以及像素缺陷检测和校正
方法
专利类型：发明专利发明人：米田丰,小矶学申请号：CN200380107363.5申请日：20031211公开号：CN1732693A公开日：20060208
摘要：像素缺陷检测/校正设备，可校正缺陷像素的数目不受记录单元的容量限制，并可以检测/校正延迟缺陷，该设备包括：色差和亮度计算块(1－2)，计算邻近像素和缺陷判断像素的色差绝对值、色差和亮度数据；块(1－3)，基于从色差和亮度算出的值而检测各种数据的最大和最小值；色差内插值计算块(1－4)和亮度内插值计算块(1－5)，获得缺陷判断像素的色差内插值和亮度内插值；缺陷判断和内插处理块(1－6)，用于使用多种缺陷检测方法，在各种缺陷检测方法下同时执行缺陷判断像素的缺陷判断，并且如果找到缺陷像素，根据相关缺陷检测方法执行内插处理；和内插值选择块(1－7)，选择被判断为有缺陷的像素的最终输出值。
申请人：索尼株式会社
地址：日本东京都
国籍：JP
代理机构：北京市柳沈律师事务所
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