（12）发明专利说明
（21）申请号 CN201810073550.4 （22）申请日 2018.01.25 （71）申请人 华中科技大学
地址 430074 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号
（10）申请公布号 CN108267449B
（43）申请公布日 2019.10.08
书
（72）发明人 谷洪刚;祝思敏;刘世元;宋宝坤 （74）专利代理机构 华中科技大学专利中心
代理人 李智
（51）Int.CI
权利要求说明书 说明书 幅图
（54）发明名称
一种二维材料层数快速识别方法及设备
（57）摘要
本发明公开了一种二维材料层数识别方
法，首先，将椭圆偏振光以基底布鲁斯特角入射到待测样品表面，探测得到反射光偏振信息，进而得到椭偏参数；然后将椭圆偏振光以基底的布鲁斯特角入射到空白基底表面，探测得到出射光偏振信息，得到椭偏参数；最后由上述测量数据计算得到椭偏参数的对比度，将仿真得到的对比度曲线峰值理论值和实测值进行比较，判断二维材料的有无和层数。该方法可以实现对二维材料
层数的快速识别，原理简单，易于操作。
法律状态
法律状态公告日
2018-07-10 2018-07-10 2018-07-10 2018-08-03 2018-08-03 2019-10-08
法律状态信息
公开 公开 公开
实质审查的生效 实质审查的生效 授权
法律状态
公开 公开 公开
实质审查的生效 实质审查的生效 授权
权利要求说明书
一种二维材料层数快速识别方法及设备的权利要求说明书内容是....请下载后查看
说明书
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