矯正預防措施報告
Action Report for Problem Solving
□ Response CCN
■ Response internal CAR
No.4D050701
责任部门Responsible department: HWSC MFG 涉及问题Concern Title: 反弹 填表日期Open Date 2005-12-12 产品型号Part No: OV7930 回复日期 Response Date: 1. 问题描述Problem Description (5W2H): 我组在12/10这天测试OV7930，OV5116，时。工号为11157，10026，11159。的员工共计反弹3人次。主要缺陷为 BDP。 责任人Owner：HWSC MFG 李丹 完成日期Done Date：2005-12-12 2. 原因分析Analysis of Root Cause(s): 拒我分析有以下几点 1） 由于是新员工。再加上12/10这天是晚班转白班的第一天。一时间缓和不过来。造成反弹。 2） 这一批料刚开始是抽到了1颗MP。加抽又抽到的BDP。在灰色地带。最后反弹过来我们做好以后。有缺陷的数量并不多。2/3的缺陷都不太明显。 3） 测试时注意力不集中，不仔细。 4） OV5116目标产量是最高的一个2000/人/天。测试时员工为了赶产量。速度过快。造成缺陷遗漏。 责任人Owner：HWSC李丹 完成日期Done Date：2005-12-12 3. 质量改进方案Quality Improvement Proposal: 围堵措施Containment Action(s): 1） 一批东西做好后让员工自己反复的对A级进行抽检。 2） 加大巡线力度。对开小差的员工及时制止。 3） 我充份利用有效时间对她们做的A级进行不定时的抽检。并做相应的记录。 永久性矫正预防措施Permanent Corrective and Preventive Action(s): 1） 加强等级标准培训，增强质量意识。力挣将反弹将到最小化。 责任人Owner：李丹 完成日期Done Date：2005-12-12 4. 改进效果追踪Follow up Improvement Effect: 确认人Checked by: 制 表： Issued by QA/David Wong 核 准： Approved by Grace Hong Doc No: HF-076 Ver.: A Rev.: 0
1
Hua Wei Semiconductor (Shanghai) Co., Ltd.
问题描述(5W2H)_
原因分析(80%的错误有20%的原因所造成. 改正方案(揭止性措施,永久性措施)
结果追踪(PCDA)(成功的人找方法,失败的人找经验)
2
Doc No: HF-076 Ver.: A Rev.: 0
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