专利名称：Analyzing apparatus and analyzing method发明人：Kazuhito Hoshino申请号：US10673185申请日：20030930公开号：US06937695B2公开日：20050830
专利附图：
摘要：Provided are an analyzing apparatus and an analyzing method for analyzing asample by performing measurements using X-rays and measuring a gas generated fromthe sample.
申请人：Kazuhito Hoshino
地址：Saitama JP
国籍：JP
代理机构：Burns, Doane, Swecker & Mathis LLP
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